短波紅外（Swir）技術可用於識別人類偽裝，例如化妝，假髮和眼鏡。 SWIR技術利用1000 - 1700nm紅外光譜的特性來檢測物體的反射和輻射特性，這些特徵可以穿透偽裝材料並獲得對象的真實信息。

化妝：化妝通常會改變一個人的外觀特徵，但不能改變其基本的生理結構。 SWIR技術可以通過掃描紅外光譜來檢測面部的熱輻射和反射特徵，以區分實際面部特徵和化妝偽裝。

假髮：假髮通常由人造纖維製成，它們在SWIR光譜範圍內具有不同的反射特性。通過分析SWIR圖像，可以檢測到假髮的存在，並且可以鑑定出偽裝者的真實頭髮。

眼鏡：玻璃通常有不同的材料和厚度，在SWIR光譜範圍內產生不同的反射和吸收特性。 SWIR技術可以通過紅外輻射的差異來確定眼鏡的存在，並進一步確定偽造者的真實眼睛。

短波技術可以幫助識別偽裝，但也可能存在一些局限性。例如，如果用於掩飾物體的材料與周圍環境中的對象相似，則可能會造成識別困難。此外，SWIR技術僅用於檢測偽裝物體的存在，並且為了識別偽裝的個體，需要組合其他信息和技術手段。但是，總體而言，在安全監控，邊境巡邏和軍事情報收集等領域，短波紅外攝像機在偽裝識別中起著重要作用。