మేము దరఖాస్తును అన్వేషిస్తున్నాము SWIR కెమెరా in సెమీకండక్టర్ పరిశ్రమ.

సిలికాన్ ఆధారిత పదార్థాలు మైక్రోఎలక్ట్రానిక్ పరిశ్రమలో విస్తృతంగా ఉపయోగించబడుతున్నాయి, చిప్స్ మరియు LED లు వంటివి. వాటి అధిక ఉష్ణ వాహకత, పరిపక్వ తయారీ ప్రక్రియలు, మంచి విద్యుత్ లక్షణాలు మరియు యాంత్రిక బలం కారణంగా, అవి మైక్రోఎలక్ట్రానిక్ పరికరాలకు ముఖ్యమైన పదార్థాలు.

అయినప్పటికీ, పదార్థం యొక్క క్రిస్టల్ నిర్మాణం మరియు తయారీ ప్రక్రియ కారణంగా, దాచిన పగుళ్లు పదార్థంలో ఏర్పడే అవకాశం ఉంది, ఇది పరికరం యొక్క విద్యుత్ పనితీరు మరియు విశ్వసనీయతను బాగా ప్రభావితం చేస్తుంది. అందువల్ల, ఈ పగుళ్ల యొక్క ఖచ్చితమైన గుర్తింపు మరియు విశ్లేషణ మైక్రోఎలక్ట్రానిక్ తయారీలో ముఖ్యమైన లింక్‌గా మారింది.

సిలికాన్ ఆధారిత పదార్థాలకు సంబంధించిన సాంప్రదాయిక పరీక్షా పద్ధతుల్లో మాన్యువల్ ఇన్‌స్పెక్షన్ మరియు ఎక్స్-రే ఇన్స్‌పెక్షన్ ఉన్నాయి, అయితే ఈ పద్ధతుల్లో కొన్ని లోపాలు ఉన్నాయి, మాన్యువల్ ఇన్‌స్పెక్షన్ యొక్క తక్కువ సామర్థ్యం, ​​మిస్డ్ ఇన్‌స్పెక్షన్‌లు మరియు క్వాలిటీ ఇన్స్పెక్షన్ ఎర్రర్‌లు సులభంగా సంభవించడం; అయినప్పటికీ, ఎక్స్-రే పరీక్షలో అధిక ధర మరియు రేడియేషన్ ప్రమాదాలు వంటి లోపాలు ఉన్నాయి. ఈ సమస్యలకు ప్రతిస్పందనగా, SWIR కెమెరాలు, కొత్త రకం కాని-కాంటాక్ట్ డిటెక్షన్ పరికరాలుగా, సమర్థత, ఖచ్చితత్వం మరియు భద్రత యొక్క ప్రయోజనాలను కలిగి ఉన్నాయి, ఇవి విస్తృతంగా ఉపయోగించే దాచబడిన క్రాక్ డిటెక్షన్ టెక్నాలజీగా మారాయి.

SWIR కెమెరాను ఉపయోగించి సిలికాన్ సబ్‌స్ట్రేట్‌పై పగుళ్లను గుర్తించడం అనేది ప్రధానంగా ఇన్‌ఫ్రారెడ్ రేడియంట్ ఎనర్జీ స్పెక్ట్రమ్ మరియు మెటీరియల్ ఉపరితలం యొక్క లక్షణాలను విశ్లేషించడం ద్వారా పదార్థాలలో పగుళ్లు మరియు వాటి స్థానాలను గుర్తించడం. ఇన్‌ఫ్రారెడ్ ఆప్టికల్ టెక్నాలజీ ద్వారా డిస్‌ప్లేలో వస్తువు విడుదల చేసే ఇన్‌ఫ్రారెడ్ తరంగదైర్ఘ్యం పరిధిలో రేడియంట్ ఎనర్జీని క్యాప్చర్ చేయడం మరియు ప్రతిబింబించడం SWIR కెమెరా యొక్క పని సూత్రం, ఆపై ప్రాసెసింగ్ ద్వారా ఇమేజ్‌లోని ఆకృతి, ఆకారం, రంగు మరియు ఇతర లక్షణాలను విశ్లేషించడం మరియు మెటీరియల్‌లో దాచిన క్రాక్ లోపం మరియు స్థానాన్ని గుర్తించడానికి విశ్లేషణ సాఫ్ట్‌వేర్.

మా వాస్తవ పరీక్ష ద్వారా, సిలికాన్ ఆధారిత క్రాక్ లోపాలను గుర్తించడానికి మా 5um పిక్సెల్ పరిమాణం, 1280×1024 అధిక సెన్సిటివిటీ SWIR కెమెరాను ఉపయోగించడం సరిపోతుందని కనుగొనవచ్చు. ప్రాజెక్ట్ గోప్యత కారకాల కారణంగా, చిత్రాలను అందించడం తాత్కాలికంగా అసౌకర్యంగా ఉంది.

నిరూపితమైన సిలికాన్-ఆధారిత క్రాక్ డిటెక్షన్ అప్లికేషన్‌లతో పాటు, సైద్ధాంతికంగా చెప్పాలంటే, SWIR కెమెరాలు పరికర ఉపరితలాలు, అంతర్గత సర్క్యూట్‌లు మొదలైనవాటిని కూడా గుర్తించగలవు. ఈ పద్ధతి నాన్-కాంటాక్ట్ మరియు రేడియేషన్ మూలాలను ఉపయోగించాల్సిన అవసరం లేదు, ఇది చాలా ఎక్కువగా ఉంటుంది. భద్రత; ఇంతలో, షార్ట్‌వేవ్ ఇన్‌ఫ్రారెడ్ యొక్క తరంగదైర్ఘ్యం పరిధిలో అధిక శోషణ గుణకం కారణంగా, పదార్థాల విశ్లేషణ కూడా మరింత ఖచ్చితమైనది మరియు శుద్ధి చేయబడింది. మేము ఇప్పటికీ అటువంటి అప్లికేషన్ల అన్వేషణ దశలోనే ఉన్నాము.

మైక్రోఎలక్ట్రానిక్స్ తయారీ రంగంలో షార్ట్‌వేవ్ ఇన్‌ఫ్రారెడ్ కెమెరాలు ముఖ్యమైన గుర్తింపు సాంకేతికతగా మారగలవని మేము ఆశిస్తున్నాము.