என்ற விண்ணப்பத்தை ஆராய்ந்து வருகிறோம் SWIR கேமரா ஐn குறைக்கடத்தி தொழில்.

சிலிக்கான் அடிப்படையிலான பொருட்கள் சிப்ஸ் மற்றும் எல்.ஈ.டி போன்ற மைக்ரோ எலக்ட்ரானிக் துறையில் பரவலாகப் பயன்படுத்தப்படுகின்றன. அவற்றின் உயர் வெப்ப கடத்துத்திறன், முதிர்ந்த உற்பத்தி செயல்முறைகள், நல்ல மின் பண்புகள் மற்றும் இயந்திர வலிமை ஆகியவற்றின் காரணமாக, அவை மைக்ரோ எலக்ட்ரானிக் சாதனங்களுக்கு முக்கியமான பொருட்களாகும்.

இருப்பினும், பொருளின் படிக அமைப்பு மற்றும் உற்பத்தி செயல்முறை காரணமாக, மறைக்கப்பட்ட விரிசல்கள் பொருளில் உருவாக வாய்ப்புள்ளது, இது சாதனத்தின் மின் செயல்திறன் மற்றும் நம்பகத்தன்மையை பெரிதும் பாதிக்கிறது. எனவே, இந்த விரிசல்களின் துல்லியமான கண்டறிதல் மற்றும் பகுப்பாய்வு மைக்ரோ எலக்ட்ரானிக் உற்பத்தியில் ஒரு முக்கிய இணைப்பாக மாறியுள்ளது.

சிலிக்கான் அடிப்படையிலான பொருட்களுக்கான பாரம்பரிய சோதனை முறைகளில் கையேடு ஆய்வு மற்றும் எக்ஸ்-ரே ஆய்வு ஆகியவை அடங்கும், ஆனால் இந்த முறைகளில் சில குறைபாடுகள் உள்ளன, அதாவது கையேடு பரிசோதனையின் குறைந்த செயல்திறன், தவறவிட்ட ஆய்வுகள் மற்றும் தர ஆய்வு பிழைகள் போன்றவை; இருப்பினும், எக்ஸ்-ரே சோதனையானது அதிக செலவு மற்றும் கதிர்வீச்சு அபாயங்கள் போன்ற குறைபாடுகளைக் கொண்டுள்ளது. இந்தச் சிக்கல்களுக்கு விடையிறுக்கும் வகையில், SWIR கேமராக்கள், ஒரு புதிய வகையான-தொடர்பு இல்லாத கண்டறிதல் கருவியாக, செயல்திறன், துல்லியம் மற்றும் பாதுகாப்பு ஆகியவற்றின் நன்மைகளைக் கொண்டுள்ளன, இது பரவலாகப் பயன்படுத்தப்படும் மறைக்கப்பட்ட விரிசல் கண்டறிதல் தொழில்நுட்பமாக மாறுகிறது.

SWIR கேமராவைப் பயன்படுத்தி சிலிக்கான் அடி மூலக்கூறுகளில் விரிசல்களைக் கண்டறிவது முக்கியமாக அகச்சிவப்பு கதிர்வீச்சு ஆற்றல் ஸ்பெக்ட்ரம் மற்றும் பொருள் மேற்பரப்பின் பண்புகளை பகுப்பாய்வு செய்வதன் மூலம் பொருட்களில் விரிசல் மற்றும் அவற்றின் இருப்பிடங்களைத் தீர்மானிப்பதாகும். SWIR கேமராவின் செயல்பாட்டுக் கொள்கை என்னவென்றால், அகச்சிவப்பு ஒளியியல் தொழில்நுட்பத்தின் மூலம் காட்சியில் உள்ள பொருளால் உமிழப்படும் அகச்சிவப்பு அலைநீள வரம்பிற்குள் கதிரியக்க ஆற்றலைப் படம்பிடித்து பிரதிபலிப்பது, பின்னர் செயலாக்கத்தின் மூலம் படத்தில் உள்ள அமைப்பு, வடிவம், நிறம் மற்றும் பிற பண்புகளை பகுப்பாய்வு செய்வது மற்றும் பொருளில் மறைக்கப்பட்ட விரிசல் குறைபாடு மற்றும் இருப்பிடத்தை கண்டறிய பகுப்பாய்வு மென்பொருள்.

எங்களின் உண்மையான சோதனையின் மூலம், சிலிக்கான் அடிப்படையிலான கிராக் குறைபாடுகளைக் கண்டறிய எங்கள் 5um பிக்சல் அளவு, 1280×1024 உயர் உணர்திறன் SWIR கேமராவைப் பயன்படுத்துவது போதுமானது என்பதைக் கண்டறியலாம். திட்ட ரகசியத்தன்மை காரணிகள் காரணமாக, படங்களை வழங்குவதற்கு தற்காலிகமாக சிரமமாக உள்ளது.

நிரூபிக்கப்பட்ட சிலிக்கான்-அடிப்படையிலான விரிசல் கண்டறிதல் பயன்பாடுகளுக்கு கூடுதலாக, கோட்பாட்டளவில், SWIR கேமராக்கள் சாதன மேற்பரப்புகள், உள் சுற்றுகள் போன்றவற்றையும் கண்டறிய முடியும். பாதுகாப்பு; இதற்கிடையில், ஷார்ட்வேவ் அகச்சிவப்பு அலைநீள வரம்பிற்குள் அதிக உறிஞ்சுதல் குணகம் காரணமாக, பொருட்களின் பகுப்பாய்வு மிகவும் துல்லியமாகவும் சுத்திகரிக்கப்பட்டதாகவும் உள்ளது. அத்தகைய பயன்பாடுகளின் ஆய்வு கட்டத்தில் நாங்கள் இன்னும் இருக்கிறோம்.

மைக்ரோ எலக்ட்ரானிக்ஸ் உற்பத்தித் துறையில் ஷார்ட்வேவ் அகச்சிவப்பு கேமராக்கள் முக்கியமான கண்டறிதல் தொழில்நுட்பமாக மாறும் என்று நாங்கள் நம்புகிறோம்.