Ne kemi eksploruar aplikimin e Kamera swir in industria gjysmëpërçuese.

Materialet me bazë silikoni përdoren gjerësisht në industrinë mikroelektronike, të tilla si patate të skuqura dhe LED.due në përçueshmërinë e tyre të lartë termike, proceset e pjekura të prodhimit, vetitë e mira elektrike dhe forcën mekanike, ato janë materiale të rëndësishme për pajisjet mikroelektronike.

Sidoqoftë, për shkak të strukturës kristal dhe procesit të prodhimit të materialit, çarjet e fshehura janë të prirura për t'u formuar në material, gjë që ndikon shumë në performancën elektrike dhe besueshmërinë e pajisjes. Prandaj, zbulimi dhe analiza e saktë e këtyre çarjeve është bërë një lidhje e rëndësishme në prodhimin mikroelektronik.

Metodat tradicionale të testimit për materialet me bazë silikoni përfshijnë inspektimin manual dhe inspektimin e rrezeve X -, por këto metoda kanë disa mangësi, siç janë efikasiteti i ulët i inspektimit manual, shfaqja e lehtë e inspektimeve të humbura dhe gabimet e inspektimit të cilësisë; Sidoqoftë, testimi i rrezeve X - ka të meta të tilla si rreziqe me kosto të lartë dhe rrezatim. Në përgjigje të këtyre çështjeve, kamerat SWIR, si një lloj i ri i pajisjeve të zbulimit jo - të kontaktit, kanë avantazhet e efikasitetit, saktësisë dhe sigurisë, duke u bërë një teknologji e përdorur gjerësisht e zbulimit të plasaritur.

Zbulimi i çarjeve në substratin e silikonit duke përdorur një aparat fotografik SWIR është kryesisht për të përcaktuar çarjet dhe vendndodhjet e tyre në materiale duke analizuar spektrin e energjisë rrezatuese infra të kuqe dhe karakteristikat e sipërfaqes së materialit. Parimi i punës i kamerës SWIR është të kapë dhe reflektojë energjinë rrezatuese brenda intervalit të gjatësisë së valës infra të kuqe të emetuar nga objekti në ekran përmes teknologjisë optike infra të kuqe, dhe pastaj të analizojë strukturën, formën, ngjyrën dhe karakteristikat e tjera në imazh përmes përpunimit dhe Softueri i analizës për të përcaktuar defektin e fshehur të plasaritjes dhe vendndodhjen në material.

Përmes testimit tonë aktual, mund të konstatohet se përdorimi i madhësisë sonë 5um piksel, kamera SWIR e ndjeshmërisë së lartë 1280 × 1024, është e mjaftueshme për të zbuluar defektet e çarjeve të bazuara në silikon. Për shkak të faktorëve të konfidencialitetit të projektit, është përkohësisht e papërshtatshme të siguroni imazhe.

Përveç aplikacioneve të provuara të silikonit - të bazuara në zbulimin e çarjeve, duke folur teorikisht, kamerat SWIR gjithashtu mund të arrijnë zbulimin e sipërfaqeve të pajisjes, qarqeve të brendshme, etj. Kjo metodë është jo - siguria; Ndërkohë, për shkak të koeficientit të lartë të thithjes brenda intervalit të gjatësisë së valës së infra të kuqe të valës së shkurtër, analiza e materialeve është gjithashtu më e saktë dhe e rafinuar. Ne jemi akoma në fazën eksploruese të aplikacioneve të tilla.

Shpresojmë që kamerat infra të kuqe me valë të shkurtër mund të bëhen një teknologji e rëndësishme e zbulimit në fushën e prodhimit të mikroelektronikës.