අපි යෙදුම ගවේෂණය කරමින් සිටිමු SWIR කැමරාව in අර්ධ සන්නායක කර්මාන්තය.

සිලිකන් පදනම් කරගත් ද්‍රව්‍ය චිප්ස් සහ LED වැනි ක්ෂුද්‍ර ඉලෙක්ට්‍රොනික කර්මාන්තයේ බහුලව භාවිතා වේ. ඒවායේ ඉහළ තාප සන්නායකතාවය, පරිණත නිෂ්පාදන ක්‍රියාවලීන්, හොඳ විද්‍යුත් ගුණ සහ යාන්ත්‍රික ශක්තිය හේතුවෙන් ඒවා ක්ෂුද්‍ර ඉලෙක්ට්‍රොනික උපාංග සඳහා වැදගත් ද්‍රව්‍ය වේ.

කෙසේ වෙතත්, ද්රව්යයේ ස්ඵටික ව්යුහය සහ නිෂ්පාදන ක්රියාවලිය හේතුවෙන්, සැඟවුනු ඉරිතැලීම් ද්රව්යයේ සෑදීමට ඉඩ ඇති අතර, එය උපාංගයේ විද්යුත් ක්රියාකාරීත්වය සහ විශ්වසනීයත්වය කෙරෙහි බෙහෙවින් බලපායි. එබැවින්, මෙම ඉරිතැලීම් නිවැරදිව හඳුනා ගැනීම සහ විශ්ලේෂණය ක්ෂුද්ර ඉලෙක්ට්රොනික නිෂ්පාදනයේ වැදගත් සම්බන්ධකයක් බවට පත්ව ඇත.

සිලිකන් පාදක ද්‍රව්‍ය සඳහා වන සාම්ප්‍රදායික පරීක්ෂණ ක්‍රම අතරට අතින් පරීක්ෂා කිරීම සහ X-ray පරීක්ෂාව ඇතුළත් වේ, නමුත් මෙම ක්‍රමවල යම් අඩුපාඩු තිබේ, එනම් අතින් පරීක්ෂා කිරීමේ අඩු කාර්යක්ෂමතාව, මඟ හැරුණු පරීක්ෂණ සහ තත්ත්ව පරීක්ෂණ දෝෂයන් පහසුවෙන් සිදු වීම; කෙසේ වෙතත්, X-ray පරීක්ෂණයට අධික පිරිවැය සහ විකිරණ උවදුරු වැනි අඩුපාඩු තිබේ. මෙම ගැටළු වලට ප්‍රතිචාර වශයෙන්, SWIR කැමරා, නව ආකාරයේ-සම්බන්ධතා නොවන හඳුනාගැනීමේ උපකරණයක් ලෙස, කාර්යක්ෂමතාව, නිරවද්‍යතාවය සහ ආරක්ෂාව යන වාසි ඇති අතර, එය බහුලව භාවිතා වන සැඟවුණු ඉරිතැලීම් හඳුනාගැනීමේ තාක්ෂණයක් බවට පත්වේ.

SWIR කැමරාවක් භාවිතයෙන් සිලිකන් උපස්ථරයෙහි ඉරිතැලීම් හඳුනා ගැනීම ප්‍රධාන වශයෙන් අධෝරක්ත විකිරණ ශක්ති වර්ණාවලිය සහ ද්‍රව්‍ය මතුපිට ලක්ෂණ විශ්ලේෂණය කිරීමෙන් ද්‍රව්‍යවල ඇති ඉරිතැලීම් සහ ඒවායේ පිහිටීම තීරණය කිරීමයි. SWIR කැමරාවේ ක්‍රියාකාරී මූලධර්මය වන්නේ අධෝරක්ත දෘශ්‍ය තාක්‍ෂණය හරහා වස්තුවෙන් විමෝචනය වන අධෝරක්ත තරංග ආයාම පරාසය තුළ විකිරණ ශක්තිය ග්‍රහණය කර පරාවර්තනය කිරීම සහ පසුව සැකසීම හරහා රූපයේ වයනය, හැඩය, වර්ණය සහ අනෙකුත් ලක්ෂණ විශ්ලේෂණය කිරීමයි. ද්රව්යයේ සැඟවුණු ඉරිතැලීම් දෝෂය සහ ස්ථානය තීරණය කිරීම සඳහා විශ්ලේෂණ මෘදුකාංගය.

අපගේ සත්‍ය පරීක්‍ෂණය හරහා, අපගේ 5um පික්සල් ප්‍රමාණයේ, 1280×1024 අධි සංවේදී SWIR කැමරාවක් භාවිතා කිරීම, සිලිකන් මත පදනම් වූ ඉරිතැලීම් දෝෂ හඳුනා ගැනීමට ප්‍රමාණවත් බව සොයා ගත හැක. ව්‍යාපෘති රහස්‍යතා සාධක හේතුවෙන්, රූප සැපයීමට තාවකාලිකව අපහසු වේ.

ඔප්පු කරන ලද සිලිකන්-පාදක ඉරිතැලීම් හඳුනාගැනීමේ යෙදුම් වලට අමතරව, න්‍යායාත්මකව කථා කළහොත්, SWIR කැමරාවලට උපාංග මතුපිට, අභ්‍යන්තර පරිපථ ආදිය හඳුනාගැනීම ද ලබා ගත හැක. මෙම ක්‍රමය ස්පර්ශ නොවන අතර අතිශයින් ඉහළ විකිරණ ප්‍රභවයන් භාවිතා කිරීම අවශ්‍ය නොවේ. ආරක්ෂාව; මේ අතර, කෙටි තරංග අධෝරක්ත තරංග ආයාම පරාසය තුළ ඇති ඉහළ අවශෝෂණ සංගුණකය හේතුවෙන්, ද්‍රව්‍ය විශ්ලේෂණය ද වඩාත් නිවැරදි හා පිරිපහදු වේ. අප තවමත් සිටින්නේ එවැනි යෙදුම්වල ගවේෂණාත්මක අවධියේය.

කෙටි තරංග අධෝරක්ත කැමරා ක්ෂුද්‍ර ඉලෙක්ට්‍රොනික නිෂ්පාදන ක්ෂේත්‍රයේ වැදගත් හඳුනාගැනීමේ තාක්‍ෂණයක් බවට පත්විය හැකි යැයි අපි බලාපොරොත්තු වෙමු.