اسان جي ايپليڪيشن کي ڳولي رهيا آهيون SWIR ڪئميرا in سيمي ڪنڊڪٽر انڊسٽري.

Silicon تي ٻڌل مواد وڏي پيماني تي microelectronic صنعت ۾ استعمال ٿيندا آهن، جهڙوڪ چپس ۽ LEDs. انهن جي اعلي حرارتي چالکائي، بالغ پيداوار جي عمل، سٺي برقي ملڪيت ۽ مشيني طاقت جي ڪري، اهي مائڪرو اليڪٽرانڪ ڊوائيسز لاء اهم مواد آهن.

بهرحال، مواد جي ڪرسٽل ساخت ۽ پيداوار جي عمل جي ڪري، لڪيل شگاف مواد ۾ ٺهڻ جو امڪان آهي، جيڪو ڊوائيس جي برقي ڪارڪردگي ۽ اعتماد کي تمام گهڻو متاثر ڪري ٿو. تنهن ڪري، انهن شگاف جو درست پتو لڳائڻ ۽ تجزيو microelectronic پيداوار ۾ هڪ اهم ڪڙي بڻجي چڪو آهي.

سلڪون تي ٻڌل مواد جي روايتي جانچ جي طريقن ۾ دستي معائنو ۽ ايڪس-ري معائنو شامل آهن، پر انهن طريقن ۾ ڪجهه نقص آهن، جهڙوڪ دستي معائنن جي گهٽ ڪارڪردگي، گم ٿيل معائنن جو آسان واقعو ۽ معيار جي چڪاس ۾ غلطيون؛ بهرحال، ايڪس-ري جاچ ۾ خرابيون آهن جيئن ته وڏي قيمت ۽ تابڪاري جا خطرا. انهن مسئلن جي جواب ۾، SWIR ڪئميرا، هڪ نئين قسم جي نان-رابطي جي پتو لڳائڻ واري سامان جي طور تي، ڪارڪردگي، درستگي ۽ حفاظت جا فائدا آهن، هڪ وڏي پيماني تي استعمال ٿيل لڪيل شگاف ڳولڻ واري ٽيڪنالاجي بڻجي ٿي.

SWIR ڪئميرا استعمال ڪندي سلڪون سبسٽريٽ تي شگاف جو پتو لڳائڻ بنيادي طور تي مواد ۾ درگاهن ۽ انهن جي جڳهن کي infrared Radiant توانائي اسپيڪٽرم ۽ مادي سطح جي خاصيتن جو تجزيو ڪرڻ سان طئي ڪرڻ آهي. SWIR ڪئميرا جو ڪم ڪندڙ اصول اهو آهي ته انفراريڊ آپٽيڪل ٽيڪنالاجي ذريعي ڊسپلي تي آبجیکٹ پاران خارج ٿيل انفراريڊ موج جي حد اندر تابڪاري توانائي کي پڪڙڻ ۽ ان کي ظاهر ڪرڻ، ۽ پوءِ پروسيسنگ ذريعي تصوير ۾ بناوت، شڪل، رنگ ۽ ٻين خاصيتن جو تجزيو ڪيو وڃي. تجزياتي سافٽ ويئر مواد ۾ لڪيل شگاف عيب ۽ مقام کي طئي ڪرڻ لاء.

اسان جي حقيقي جاچ ذريعي، اهو معلوم ڪري سگهجي ٿو ته اسان جي 5um پکسل سائيز، 1280 × 1024 اعلي حساسيت SWIR ڪئميرا استعمال ڪندي، سلڪون جي بنياد تي شگاف جي خرابين کي ڳولڻ لاء ڪافي آهي. پروجيڪٽ جي رازداري عنصرن جي ڪري، تصويرون مهيا ڪرڻ ۾ عارضي طور تي تڪليف آهي.

ثابت ڪيل سلڪون-بنياد تي شگاف ڳولڻ واري ايپليڪيشنن کان علاوه، نظرياتي طور تي ڳالهائڻ، SWIR ڪئميرا پڻ ڊوائيس جي سطحن، اندروني سرڪٽ، وغيره جي سڃاڻپ حاصل ڪري سگھن ٿا. هي طريقو غير رابطو آهي ۽ تابڪاري ذريعن جي استعمال جي ضرورت ناهي، جنهن ۾ تمام گهڻو آهي. حفاظت؛ ان کان علاوه، شارٽ ويو انفراريڊ جي موج جي ڊيگهه جي حد اندر اعلي جذب جي گنجائش جي ڪري، مواد جو تجزيو پڻ وڌيڪ صحيح ۽ سڌريل آهي. اسان اڃا تائين اهڙين ايپليڪيشنن جي ڳولا واري مرحلي ۾ آهيون.

اسان کي اميد آهي ته شارٽ ويو انفراريڊ ڪئميرا مائڪرو اليڪٽرانڪس جي پيداوار جي ميدان ۾ هڪ اهم سڃاڻپ ٽيڪنالاجي بڻجي سگهي ٿي.