ကျွန်ုပ်တို့သည် လျှောက်လွှာကို ရှာဖွေနေပါသည်။ SWIR ကင်မရာ in ဆီမီးကွန်ဒတ်တာလုပ်ငန်း။

စီလီကွန်အခြေခံပစ္စည်းများကို ချစ်ပ်များနှင့် LED များကဲ့သို့သော အသေးစားအီလက်ထရွန်းနစ်စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုကြသည်။ ၎င်းတို့၏မြင့်မားသောအပူစီးကူးမှု၊ ရင့်ကျက်သောကုန်ထုတ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်များ၊ ကောင်းမွန်သောလျှပ်စစ်ဂုဏ်သတ္တိများနှင့်စက်မှုစွမ်းအားကြောင့် ၎င်းတို့သည် မိုက်ခရိုအီလက်ထရွန်းနစ်စက်ပစ္စည်းများအတွက် အရေးကြီးသောပစ္စည်းများဖြစ်သည်။

သို့သော်၊ ပစ္စည်း၏ပုံဆောင်ခဲဖွဲ့စည်းပုံနှင့် ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်ကြောင့်၊ လျှို့ဝှက်အက်ကွဲမှုများသည် ပစ္စည်းအတွင်းတွင် ဖြစ်ပေါ်တတ်ပြီး စက်ပစ္စည်း၏လျှပ်စစ်စွမ်းဆောင်မှုနှင့် ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို များစွာထိခိုက်စေပါသည်။ ထို့ကြောင့်၊ ဤအက်ကြောင်းများကို တိကျမှန်ကန်စွာ ရှာဖွေခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းသည် မိုက်ခရိုအီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်လုပ်မှုတွင် အရေးကြီးသော ချိတ်ဆက်မှုတစ်ခု ဖြစ်လာခဲ့သည်။

ဆီလီကွန်အခြေခံပစ္စည်းများအတွက် မိရိုးဖလာစမ်းသပ်ခြင်းနည်းလမ်းများတွင် လက်ဖြင့်စစ်ဆေးခြင်းနှင့် X-ray စစ်ဆေးခြင်း ပါ၀င်သော်လည်း အဆိုပါနည်းလမ်းများတွင် ကိုယ်တိုင်စစ်ဆေးခြင်း၏ထိရောက်မှုနည်းပါးခြင်း၊ လွတ်သွားသောစစ်ဆေးမှုများ လွယ်ကူစွာဖြစ်ပေါ်ခြင်းနှင့် အရည်အသွေးစစ်ဆေးခြင်းအမှားများကဲ့သို့သော ချို့ယွင်းချက်များရှိသည်။ သို့သော်လည်း ဓာတ်မှန်ရိုက်ခြင်းတွင် ကုန်ကျစရိတ်မြင့်မားခြင်းနှင့် ဓာတ်ရောင်ခြည်အန္တရာယ်များကဲ့သို့သော အားနည်းချက်များရှိသည်။ ဤပြဿနာများကို တုံ့ပြန်သည့်အနေဖြင့် SWIR ကင်မရာများသည် - အဆက်အသွယ်ရှာဖွေခြင်းမဟုတ်သော ကိရိယာအမျိုးအစားသစ်တစ်ခုအနေဖြင့် ထိရောက်မှု၊ တိကျမှုနှင့် ဘေးကင်းမှု၏ အားသာချက်များရှိပြီး တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုသည့် လျှို့ဝှက်အက်ကွဲရှာဖွေခြင်းနည်းပညာဖြစ်လာသည်။

SWIR ကင်မရာကို အသုံးပြု၍ ဆီလီကွန်အလွှာပေါ်ရှိ အက်ကွဲကြောင်းများကို ထောက်လှမ်းခြင်းသည် အဓိကအားဖြင့် အနီအောက်ရောင်ခြည်ဖြာထွက်သော စွမ်းအင်ရောင်စဉ်နှင့် ပစ္စည်းမျက်နှာပြင်၏ ဝိသေသလက္ခဏာများကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဖြင့် အက်ကြောင်းများနှင့် ၎င်းတို့၏တည်နေရာများကို ဆုံးဖြတ်ရန်ဖြစ်သည်။ SWIR ကင်မရာ၏ လုပ်ငန်းဆောင်ရွက်ချက်မှာ မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အရာဝတ္ထုမှ ထုတ်လွှတ်သော အနီအောက်ရောင်ခြည် လှိုင်းအလျားအကွာအဝေးအတွင်း Radiant စွမ်းအင်ကို ဖမ်းယူပြီး ထင်ဟပ်စေကာ အနီအောက်ရောင်ခြည်ဖြင့် အလင်းပြန်ခြင်းနည်းပညာဖြင့် ပုံရိပ်ရှိ အသွင်သဏ္ဌာန်၊ ပုံသဏ္ဍာန်၊ အရောင်နှင့် အခြားဝိသေသလက္ခဏာများကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာပြီး စီမံဆောင်ရွက်ခြင်း၊ ပစ္စည်းရှိ လျှို့ဝှက်အက်ကွဲချို့ယွင်းချက်နှင့် တည်နေရာကို ဆုံးဖြတ်ရန် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့်ဆော့ဖ်ဝဲ။

ကျွန်ုပ်တို့၏ လက်တွေ့စမ်းသပ်မှုမှတစ်ဆင့်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏ 5um pixels အရွယ်အစား၊ 1280×1024 မြင့်မားသော အာရုံခံနိုင်စွမ်း SWIR ကင်မရာကို အသုံးပြု၍ ဆီလီကွန်အခြေခံအက်ကွဲချို့ယွင်းချက်များကို ရှာဖွေတွေ့ရှိနိုင်သည်မှာ လုံလောက်ပါသည်။ ပရောဂျက်၏ လျှို့ဝှက်ရေးအချက်များကြောင့်၊ ပုံများကို ပေးဆောင်ရန် ယာယီ အဆင်မပြေပါ။

သက်သေပြထားသော ဆီလီကွန်-အခြေခံအက်ကွဲမှုကို ထောက်လှမ်းသည့်အက်ပ်များအပြင်၊ သီအိုရီအရပြောရလျှင် SWIR ကင်မရာများသည် စက်ပစ္စည်းမျက်နှာပြင်များ၊ အတွင်းဆားကစ်များစသည်တို့ကို သိရှိနိုင်သည်။ ဤနည်းလမ်းသည် အဆက်အသွယ်မရှိသည့်အပြင် အလွန်မြင့်မားသော ဓာတ်ရောင်ခြည်အရင်းအမြစ်များကို အသုံးပြုရန် မလိုအပ်ပါ။ လုံခြုံရေး၊ ဤအတောအတွင်း၊ လှိုင်းအလျားအနီအောက်ရောင်ခြည်၏ လှိုင်းအလျားအကွာအဝေးအတွင်း မြင့်မားသောစုပ်ယူမှုကိန်းဂဏန်းကြောင့်၊ ပစ္စည်းများ၏ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုသည် ပိုမိုတိကျပြီး သန့်စင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် ထိုကဲ့သို့သော အသုံးချပရိုဂရမ်များ၏ စူးစမ်းလေ့လာရေးအဆင့်တွင် ရှိနေသေးသည်။

လှိုင်းတိုအနီအောက်ရောင်ခြည်ကင်မရာများသည် မိုက်ခရိုအီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်လုပ်မှုနယ်ပယ်တွင် အရေးကြီးသော ထောက်လှမ်းမှုနည်းပညာဖြစ်လာနိုင်မည်ဟု ကျွန်ုပ်တို့မျှော်လင့်ပါသည်။