Ilna nesploraw l-applikazzjoni ta ' Kamera swir in l-industrija tas-semikondutturi.

Materjali bbażati fuq is-silikon huma użati ħafna fl-industrija mikroelettronika, bħal ċipep u LEDs.Due għall-konduttività termali għolja tagħhom, proċessi ta 'manifattura maturi, proprjetajiet elettriċi tajbin u saħħa mekkanika, huma materjali importanti għal apparati mikroelettroniċi.

Madankollu, minħabba l-istruttura tal-kristall u l-proċess tal-manifattura tal-materjal, xquq moħbija huma suxxettibbli li jiffurmaw fil-materjal, li jaffettwa ħafna l-prestazzjoni elettrika u l-affidabbiltà tal-apparat. Għalhekk, sejbien preċiż u analiżi ta 'dawn ix-xquq saru rabta importanti fil-manifattura mikroelettronika.

Il-metodi tradizzjonali ta 'ttestjar għal materjali bbażati fuq is-silikon jinkludu spezzjoni manwali u spezzjoni x - ray, iżda dawn il-metodi għandhom xi nuqqasijiet, bħal effiċjenza baxxa ta' spezzjoni manwali, okkorrenza faċli ta 'spezzjonijiet mitlufa u żbalji ta' spezzjoni tal-kwalità; Madankollu, l-ittestjar X - Ray għandu żvantaġġi bħal perikli ta 'spiża għolja u radjazzjoni. Bi tweġiba għal dawn il-kwistjonijiet, il-kameras SWIR, bħala tip ġdid ta 'tagħmir ta' skoperta ta 'kuntatt mhux -, għandhom il-vantaġġi ta' effiċjenza, eżattezza, u sigurtà, li jsiru teknoloġija ta 'skoperta ta' xquq moħbija użata ħafna.

L-iskoperta ta 'xquq fuq is-sottostrat tas-silikon bl-użu ta' kamera SWIR hija prinċipalment biex tiddetermina x-xquq u l-postijiet tagħhom fil-materjali billi tanalizza l-ispettru tal-enerġija radjanti infra-aħmar u l-karatteristiċi tal-wiċċ tal-materjal. Il-prinċipju tax-xogħol tal-kamera SWIR huwa li jaqbad u jirrifletti l-enerġija radjanti fil-firxa tat-tul ta 'mewġa infra-aħmar li ħarġet mill-oġġett fuq il-wiri permezz ta' teknoloġija ottika infra-aħmar, u mbagħad tanalizza n-nisġa, il-forma, il-kulur u karatteristiċi oħra fl-immaġni permezz tal-ipproċessar u Analiżi tas-softwer biex tiddetermina d-difett u l-post moħbi tal-qasma fil-materjal.

Permezz tal-ittestjar attwali tagħna, jista 'jinstab li l-użu tad-daqs tal-pixel 5UM tagħna, 1280 × 1024 kamera SWIR ta' sensittività għolja, hija biżżejjed biex tiskopri difetti ta 'xquq ibbażati fuq is-silikon. Minħabba fatturi ta 'kunfidenzjalità tal-proġett, huwa temporanjament inkonvenjenti li tipprovdi immaġini.

Minbarra l-applikazzjonijiet ta 'skoperta ta' xquq ibbażati fuq is-silikon, teoretikament, il-kameras SWIR jistgħu wkoll jiksbu sejbien ta 'uċuħ ta' apparat, ċirkwiti interni, eċċ. Dan il-metodu huwa kuntatt mhux u ma jeħtieġx l-użu ta 'sorsi ta' radjazzjoni, li għandu estremament għoli sigurtà; Sadanittant, minħabba l-koeffiċjent ta 'assorbiment għoli fil-firxa tat-tul ta' mewġa ta 'infra-aħmar ta' mewġ qasir, l-analiżi tal-materjali hija wkoll iktar preċiża u raffinata. Aħna għadna fl-istadju esploratorju ta 'applikazzjonijiet bħal dawn.

Nisperaw li kameras infra-aħmar tal-mewġ qasir jistgħu jsiru teknoloġija ta 'skoperta importanti fil-qasam tal-manifattura tal-mikroelettronika.