단파 적외선(SWIR) 기술을 활용하면 화장, 가발, 안경 등 인체 위장을 식별할 수 있습니다. SWIR 기술은 1000-1700nm 적외선 스펙트럼의 특성을 활용하여 물체의 반사 및 방사 특성을 감지하며, 이는 위장 재료를 관통하고 물체의 실제 정보를 얻을 수 있습니다.

메이크업: 메이크업은 일반적으로 사람의 외모 특성을 변경하지만 기본적인 생리적 구조를 변경할 수는 없습니다. SWIR 기술은 적외선 스펙트럼을 스캔하여 실제 얼굴 특징과 메이크업 위장을 구별함으로써 얼굴의 열 복사 및 반사 특징을 감지할 수 있습니다.

가발: 가발은 일반적으로 SWIR 스펙트럼 범위 내에서 다양한 반사 특성을 갖는 인공 섬유로 만들어집니다. SWIR 이미지를 분석하면 가발 유무를 감지하고 변장자의 실제 머리카락을 식별할 수 있습니다.

안경: 안경은 일반적으로 SWIR 스펙트럼 범위 내에서 다양한 반사 및 흡수 특성을 생성하는 다양한 재질과 두께로 제공됩니다. SWIR 기술은 적외선 방사의 차이를 통해 안경의 존재 여부를 식별하고 위장자의 실제 눈을 더욱 판별할 수 있습니다.

단파 기술은 위장을 식별하는 데 도움이 되지만 몇 가지 제한 사항이 있을 수도 있습니다. 예를 들어, 사물을 위장하는 데 사용된 재료가 주변 환경과 유사한 경우 인식에 어려움을 겪을 수 있습니다. 또한 SWIR 기술은 위장된 물체의 존재를 탐지하는 데에만 사용되며, 위장된 개인을 식별하려면 다른 정보와 기술적 수단이 결합되어야 합니다. 그러나 전반적으로 단파 적외선 카메라는 보안 모니터링, 국경 순찰, 군사 정보 수집 등의 분야에서 위장 인식에 중요한 역할을 합니다.