Kita wis njelajah aplikasi saka kamera SWIR in industri semikonduktor.

Bahan adhedhasar silikon digunakake kanthi wiyar ing industri mikroelektronik, kayata chip lan LED. Amarga konduktivitas termal sing dhuwur, proses manufaktur sing diwasa, sifat listrik sing apik lan kekuatan mekanik, mula dadi bahan penting kanggo piranti mikroelektronik.

Nanging, amarga struktur kristal lan proses manufaktur materi, retakan sing didhelikake gampang dibentuk ing materi, sing mengaruhi kinerja listrik lan linuwih piranti kasebut. Mulane, deteksi akurat lan analisis retak iki wis dadi link penting ing Manufaktur microelectronic.

Cara tes tradisional kanggo bahan adhedhasar silikon kalebu inspeksi manual lan inspeksi sinar X, nanging cara kasebut duwe sawetara kekurangan, kayata efisiensi inspeksi manual sing murah, inspeksi sing ora kejawab lan kesalahan inspeksi kualitas; Nanging, tes sinar X duwe kekurangan kayata biaya dhuwur lan bebaya radiasi. Kanggo nanggepi masalah kasebut, kamera SWIR, minangka jinis peralatan deteksi non-kontak anyar, duwe kaluwihan efisiensi, akurasi, lan safety, dadi teknologi deteksi retak sing didhelikake sing akeh digunakake.

Deteksi retakan ing substrat silikon nggunakake kamera SWIR utamane kanggo nemtokake retakan lan lokasi ing bahan kanthi nganalisa spektrum energi Radiant inframerah lan karakteristik permukaan materi. Prinsip kerja kamera SWIR yaiku kanggo nangkep lan nggambarake energi Radiant ing jarak gelombang inframerah sing dipancarake obyek ing layar liwat teknologi optik inframerah, banjur nganalisa tekstur, wujud, warna lan karakteristik liyane ing gambar liwat pangolahan lan lunak analisis kanggo nemtokake cacat retak didhelikake lan lokasi ing materi.

Liwat tes nyata, bisa ditemokake yen nggunakake ukuran piksel 5um, kamera SWIR sensitivitas dhuwur 1280 × 1024, cukup kanggo ndeteksi cacat retak adhedhasar silikon. Amarga faktor kerahasiaan proyek, kanggo sementara ora trep kanggo nyedhiyakake gambar.

Saliyane aplikasi deteksi retak adhedhasar silikon-basis sing wis kabukten, kanthi teori, kamera SWIR uga bisa deteksi permukaan piranti, sirkuit internal, lan sapiturute. Cara iki non-kontak lan ora mbutuhake sumber radiasi, sing nduweni dhuwur banget safety; Kangge, amarga koefisien panyerepan dhuwur ing sawetara dawa gelombang infra merah gelombang pendek, analisis bahan uga luwih akurat lan olahan. Kita isih ing tahap eksplorasi aplikasi kasebut.

Muga-muga kamera inframerah gelombang pendek bisa dadi teknologi deteksi penting ing bidang manufaktur mikroelektronik.