Táimid tar éis cur i bhfeidhm na ceamara SWIR in an tionscal leathsheoltóra.

Úsáidtear ábhair atá bunaithe ar sileacain go forleathan sa tionscal micrileictreonach, mar sliseanna agus LEDs.

Mar sin féin, mar gheall ar struchtúr criostail agus próiseas déantúsaíochta an ábhair, tá seans maith go gcruthófar scoilteanna folaithe san ábhar, rud a chuireann isteach go mór ar fheidhmíocht leictreach agus ar iontaofacht na feiste. Dá bhrí sin, tá braiteadh agus anailís chruinn ar na scoilteanna seo ina nasc tábhachtach i ndéantúsaíocht mhicrileictreonach.

Áirítear ar na modhanna tástála traidisiúnta le haghaidh ábhar sileacain cigireacht láimhe agus cigireacht X-gha, ach tá roinnt easnaimh ag na modhanna seo, mar shampla éifeachtacht íseal iniúchta láimhe, tarlú éasca iniúchtaí caillte agus earráidí iniúchta cáilíochta; Mar sin féin, tá míbhuntáistí ag baint le tástáil X-ghathach amhail guaiseacha ardchostais agus radaíochta. Mar fhreagra ar na saincheisteanna seo, tá na buntáistí a bhaineann le héifeachtacht, cruinneas agus sábháilteacht ag ceamaraí SWIR, mar chineál nua de threalamh braite neamhtheagmhála, agus is teicneolaíocht braite crack i bhfolach a úsáidtear go forleathan iad.

Is é a bhrath scoilteanna ar an tsubstráit sileacain ag baint úsáide as ceamara SWIR go príomha chun na scoilteanna agus a n-áiteanna in ábhair a chinneadh trí anailís a dhéanamh ar speictream fuinnimh radiant infridhearg agus saintréithe dromchla an ábhair. Is é prionsabal oibre ceamara SWIR ná an fuinneamh Radiant a ghabháil agus a léiriú laistigh den raon tonnfhad infridhearg a astaíonn an réad ar an taispeáint trí theicneolaíocht infridhearg optúil, agus ansin anailís a dhéanamh ar uigeacht, cruth, dath agus tréithe eile san íomhá trí phróiseáil agus bogearraí anailíse chun an locht crack i bhfolach agus an suíomh san ábhar a chinneadh.

Tríd an tástáil iarbhír, is féidir a fháil amach gur leor úsáid a bhaint as ár n-mhéid picteilín 5um, ceamara SWIR ard-íogaireachta 1280 × 1024, chun lochtanna crack sileacain-bhunaithe a bhrath. De bharr fachtóirí rúndachta tionscadail, tá sé deacair go sealadach íomhánna a sholáthar.

Chomh maith leis na hiarratais chruthaithe sileacain - sábháilteacht; Idir an dá linn, mar gheall ar an gcomhéifeacht ard-ionsú laistigh den raon tonnfhad infridhearg shortwave, tá an anailís ar ábhair níos cruinne agus níos scagtha freisin. Táimid fós sa chéim iniúchta d'iarratais den sórt sin.

Tá súil againn gur féidir le ceamaraí infridhearga gearrtonn a bheith ina dteicneolaíocht braite tábhachtach i réimse na déantúsaíochta micrea-leictreonaic.